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涂层测厚仪的使用方法
涂层测厚仪的使用方法
使用涂层测厚仪时应当遵守的规定：
a基体金属特性对于磁性方法，规范片的基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。
对于涡流方法，规范片基体金属的电性质，应当与试件基体金属的电性质相似。
b基体金属厚度检查基体金属厚度是否超过临界厚度，如果没有，可采用3.3中的某种方法进行校准。
c边缘效应不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。
d曲率不应在试件的弯曲外表上测量。
e读数次数通常由于仪器的每次读数并不完全相同，因此必需在每一测量面积内取几个读数。
覆盖层厚度的局部差别，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，外表粗造时更应如此。
f外表清洁度丈量前，应**表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质。

　
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